通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地**之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。数字IC多值逻辑测试仪，利用**的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。**可以满足IC用户的参数测试要求。是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的**测试仪器。
本系统的主要特点
测试范围及测试品种：28Pin
54系列； 74系列；
4500系列；4000系列；
RAM 256K BIT
EPROM 64K BIT
C00 系列；
产品主要性能：
在功能测试的基础上 测试器件的输入端注入电流。
测试器件的功耗电流。
测试器件的输入端交叉漏电流。
查找未知芯片型号。
测试器件的输出端：三态“及”OC“门。 可以单次测试，也可以循环测试。
测试器件的输出负载电流。
可自动识别74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。
本产品所提供的多值测试参数：
8种可选择的测试电阻。
可设置多种输入端注入电流。
多种测试电压比较值。
功耗测试。
以上参数的不同组合构成的测试模式，其中包括用户自定义模式及**组合测试模式。
测试模式：
模式O：**组合参数测试。
模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
模式D：任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
模式E：自检。内容包括计算机部分，显示，键盘及测试管脚电路。
模式F：自编程测试.
数字集成电路多值逻辑测试仪
测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
对IC输入电流、功耗电流测试。
输入漏电流及交叉漏电流测试。
测试过程无须人工干预。
用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
可自动识别74系列中的CMOS器件。
可以查找未知IC的型号。